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TLP測(cè)試儀

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傳輸線脈沖(Transmission-Line Pulse-TLP)測(cè)試是一種通過測(cè)量時(shí)域的電流電壓來(lái)研究集成電路及其特性的ESD測(cè)試方法,采用這種測(cè)試更具可靠性,并可同時(shí)自動(dòng)進(jìn)行故障檢測(cè)。
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產(chǎn)品詳情


TLP測(cè)試與普通ESD測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)

波形定義明確

ESD發(fā)生器的標(biāo)準(zhǔn)中,電路和波形的定義都有太多不確定因素(沒有測(cè)試路徑的阻抗控制只有特性時(shí)間內(nèi)30%的容差…)。這使得不同的ESD發(fā)生器在不同的測(cè)試條件下會(huì)得到非常不同的ESD測(cè)試結(jié)果。TLP脈沖的波形干凈一致。

測(cè)試裝置一致性高

手持ESD發(fā)生器可能導(dǎo)致測(cè)試裝置的不一致,然而,TLP測(cè)試的夾具能夠提供更易控制的測(cè)試裝置。

測(cè)試效率

TLP測(cè)試有全自動(dòng)化控制的脈沖,DC漏電流,I-V 曲線實(shí)時(shí)更新和故障自動(dòng)檢測(cè)。自動(dòng)快速測(cè)試,可生成報(bào)告!

便于分析整改

從TLP測(cè)試中可以提取DUT的許多有用瞬態(tài)特性信息,可用于設(shè)備的分析,為ESD分析和設(shè)計(jì)提供重要信息,而傳統(tǒng)的ESD測(cè)試只能得到用于Pass/Fail的結(jié)果。


TLP測(cè)試應(yīng)用

 評(píng)估ESD保護(hù)器件性能(比較動(dòng)態(tài)阻抗R.和鉗位速度)

 評(píng)估設(shè)備和模塊的ESD失效等級(jí)

當(dāng)需要不同的脈沖形狀(TLP,HMM, HBM .),脈沖寬度,上升時(shí)間 或者不同的電流注入等級(jí)(40A, 90A,160A ..)時(shí),可使用TLP測(cè)試

 評(píng)估安全工作區(qū)域

TLP可提供各種不同范圍的脈沖寬度和注入等級(jí)

 觸摸板的擊穿和熔斷敏感度

TLP可提供不同的脈沖注入和測(cè)量


TLP測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)要求

標(biāo)準(zhǔn)TLP(STM5.5.1-2014)

  • 0.2 至 10ns 上升時(shí)間

  • 10ns 至 ms級(jí)脈沖寬度(典型值為100ns)

  • 至少200MHz帶寬示波器

  • 至少200MHz帶寬電壓探頭至少200MHz帶寬電流探頭

超快TLP(SP5.5.2-2007)

  • 典型值:<=200ps 上升時(shí)間

  • 1ns-10ns 脈沖寬度

  • 至少2.5GHz帶寬,5Gsa/s采樣率示波器

  • 至少1GHz帶寬電壓探頭

  • 至少2GHz帶寬電壓探頭

測(cè)試方法:

在TVS器件兩端施加一個(gè)納秒級(jí)方波(電流波),測(cè)量器件通過方波相應(yīng)電流時(shí)器件兩端電壓。(模擬TLP-Transmission Line Pulse的測(cè)試結(jié)果)


測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)及原理


在上述系統(tǒng)中,分流電阻的典型值是53~562Ω,作用是抵消由包括DUT在內(nèi)的并聯(lián)電路帶來(lái)的50Ω不匹配電阻。500Ω電阻的作用:一個(gè)串聯(lián)到DUT的500~1000Ω電阻來(lái)提供恒定的電流,定義為TLP-500或TLP-1000系統(tǒng),在許多系統(tǒng)里,串聯(lián)電阻的取值范圍為450~500Ω。


脈沖波形


TLP測(cè)試系統(tǒng)配置

  • 脈沖發(fā)生器 --生成 TLP/VF-TLP/HMM/HBM 等.

  • 設(shè)備測(cè)量探頭 -- PCB對(duì)應(yīng)的SMA接頭,IC測(cè)試夾具,探針臺(tái)

  • 電流和電壓測(cè)量方法 -- 探頭直接測(cè)量

  • 瞬態(tài)數(shù)據(jù)獲取 -- 示波器(帶寬由應(yīng)用范圍決定)


SKS-TLP4K系統(tǒng)的優(yōu)勢(shì)

價(jià)格:目前大多數(shù)商用TLP系統(tǒng)都來(lái)自于進(jìn)口品牌,價(jià)格為4萬(wàn)至25萬(wàn)美元之間,我公司自主研發(fā)的這款TLP測(cè)試儀采用進(jìn)口水銀開關(guān)國(guó)內(nèi)全自助安裝加工,價(jià)格上有很大優(yōu)勢(shì)(相同規(guī)格價(jià)格只有進(jìn)口品牌1/4)。

性能:經(jīng)過多次對(duì)比和改進(jìn),目前我公司的TLP測(cè)試系統(tǒng)已經(jīng)能完全滿足測(cè)試需求,完全可以替代進(jìn)口品牌。


SKS-TLP4K脈沖發(fā)生器技術(shù)規(guī)格

  • 設(shè)備可以穩(wěn)定輸出單脈沖方波上升時(shí)間TR≤1ns,脈寬TP范圍為50ns至100ns可調(diào)

  • 電壓幅度范圍:0.2V~4000V (步進(jìn):10V可調(diào))

  • 限流電阻:500Ω/100Ω

  • 電流幅度:500Ω限流電阻:0.2A-4A

  • 100Ω限流電阻:1A-20A

  • 脈沖間隔: 單次 1s/次 10s/次

  • 自動(dòng)步進(jìn)功能


SKS-TLP4K相關(guān)波形實(shí)測(cè)圖(24VATVS)



相關(guān)配套

互感器:泰克的ct1或者ct2

示波器:1G帶寬或更高


TLP測(cè)試儀

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傳輸線脈沖(Transmission-Line Pulse-TLP)測(cè)試是一種通過測(cè)量時(shí)域的電流電壓來(lái)研究集成電路及其特性的ESD測(cè)試方法,采用這種測(cè)試更具可靠性,并可同時(shí)自動(dòng)進(jìn)行故障檢測(cè)。
021-52703737
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TLP測(cè)試與普通ESD測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)

波形定義明確

ESD發(fā)生器的標(biāo)準(zhǔn)中,電路和波形的定義都有太多不確定因素(沒有測(cè)試路徑的阻抗控制只有特性時(shí)間內(nèi)30%的容差…)。這使得不同的ESD發(fā)生器在不同的測(cè)試條件下會(huì)得到非常不同的ESD測(cè)試結(jié)果。TLP脈沖的波形干凈一致。

測(cè)試裝置一致性高

手持ESD發(fā)生器可能導(dǎo)致測(cè)試裝置的不一致,然而,TLP測(cè)試的夾具能夠提供更易控制的測(cè)試裝置。

測(cè)試效率

TLP測(cè)試有全自動(dòng)化控制的脈沖,DC漏電流,I-V 曲線實(shí)時(shí)更新和故障自動(dòng)檢測(cè)。自動(dòng)快速測(cè)試,可生成報(bào)告!

便于分析整改

從TLP測(cè)試中可以提取DUT的許多有用瞬態(tài)特性信息,可用于設(shè)備的分析,為ESD分析和設(shè)計(jì)提供重要信息,而傳統(tǒng)的ESD測(cè)試只能得到用于Pass/Fail的結(jié)果。


TLP測(cè)試應(yīng)用

 評(píng)估ESD保護(hù)器件性能(比較動(dòng)態(tài)阻抗R.和鉗位速度)

 評(píng)估設(shè)備和模塊的ESD失效等級(jí)

當(dāng)需要不同的脈沖形狀(TLP,HMM, HBM .),脈沖寬度,上升時(shí)間 或者不同的電流注入等級(jí)(40A, 90A,160A ..)時(shí),可使用TLP測(cè)試

 評(píng)估安全工作區(qū)域

TLP可提供各種不同范圍的脈沖寬度和注入等級(jí)

 觸摸板的擊穿和熔斷敏感度

TLP可提供不同的脈沖注入和測(cè)量


TLP測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)要求

標(biāo)準(zhǔn)TLP(STM5.5.1-2014)

  • 0.2 至 10ns 上升時(shí)間

  • 10ns 至 ms級(jí)脈沖寬度(典型值為100ns)

  • 至少200MHz帶寬示波器

  • 至少200MHz帶寬電壓探頭至少200MHz帶寬電流探頭

超快TLP(SP5.5.2-2007)

  • 典型值:<=200ps 上升時(shí)間

  • 1ns-10ns 脈沖寬度

  • 至少2.5GHz帶寬,5Gsa/s采樣率示波器

  • 至少1GHz帶寬電壓探頭

  • 至少2GHz帶寬電壓探頭

測(cè)試方法:

在TVS器件兩端施加一個(gè)納秒級(jí)方波(電流波),測(cè)量器件通過方波相應(yīng)電流時(shí)器件兩端電壓。(模擬TLP-Transmission Line Pulse的測(cè)試結(jié)果)


測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)及原理


在上述系統(tǒng)中,分流電阻的典型值是53~562Ω,作用是抵消由包括DUT在內(nèi)的并聯(lián)電路帶來(lái)的50Ω不匹配電阻。500Ω電阻的作用:一個(gè)串聯(lián)到DUT的500~1000Ω電阻來(lái)提供恒定的電流,定義為TLP-500或TLP-1000系統(tǒng),在許多系統(tǒng)里,串聯(lián)電阻的取值范圍為450~500Ω。


脈沖波形


TLP測(cè)試系統(tǒng)配置

  • 脈沖發(fā)生器 --生成 TLP/VF-TLP/HMM/HBM 等.

  • 設(shè)備測(cè)量探頭 -- PCB對(duì)應(yīng)的SMA接頭,IC測(cè)試夾具,探針臺(tái)

  • 電流和電壓測(cè)量方法 -- 探頭直接測(cè)量

  • 瞬態(tài)數(shù)據(jù)獲取 -- 示波器(帶寬由應(yīng)用范圍決定)


SKS-TLP4K系統(tǒng)的優(yōu)勢(shì)

價(jià)格:目前大多數(shù)商用TLP系統(tǒng)都來(lái)自于進(jìn)口品牌,價(jià)格為4萬(wàn)至25萬(wàn)美元之間,我公司自主研發(fā)的這款TLP測(cè)試儀采用進(jìn)口水銀開關(guān)國(guó)內(nèi)全自助安裝加工,價(jià)格上有很大優(yōu)勢(shì)(相同規(guī)格價(jià)格只有進(jìn)口品牌1/4)。

性能:經(jīng)過多次對(duì)比和改進(jìn),目前我公司的TLP測(cè)試系統(tǒng)已經(jīng)能完全滿足測(cè)試需求,完全可以替代進(jìn)口品牌。


SKS-TLP4K脈沖發(fā)生器技術(shù)規(guī)格

  • 設(shè)備可以穩(wěn)定輸出單脈沖方波上升時(shí)間TR≤1ns,脈寬TP范圍為50ns至100ns可調(diào)

  • 電壓幅度范圍:0.2V~4000V (步進(jìn):10V可調(diào))

  • 限流電阻:500Ω/100Ω

  • 電流幅度:500Ω限流電阻:0.2A-4A

  • 100Ω限流電阻:1A-20A

  • 脈沖間隔: 單次 1s/次 10s/次

  • 自動(dòng)步進(jìn)功能


SKS-TLP4K相關(guān)波形實(shí)測(cè)圖(24VATVS)



相關(guān)配套

互感器:泰克的ct1或者ct2

示波器:1G帶寬或更高


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